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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。

ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。

ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。