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在精密制造領(lǐng)域，平面度測(cè)量是評(píng)價(jià)工件質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)。白光干涉輪廓儀作為一種非接觸式光學(xué)測(cè)量?jī)x器，憑借其納米級(jí)的分辨率和快速測(cè)量能力，已成為平面度檢測(cè)的重要工具。西班牙Sensofar平面度測(cè)量白光干涉輪廓儀的核心原理是基于白光干涉的相干測(cè)量技術(shù)。儀器通過分光鏡將光源分為測(cè)量光和參考光，當(dāng)兩束光重新匯合時(shí)會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。通過精密CCD相機(jī)捕捉干涉圖像，結(jié)合相移算法，可以重建出被測(cè)表面的三維形貌?，F(xiàn)代儀器的垂直分辨率可達(dá)0.1nm，橫向分辨率達(dá)到1μm，測(cè)量速度比傳統(tǒng)接觸式測(cè)量快...

新世代的大范圍計(jì)量工具Swide是專用系統(tǒng)，適用于快速測(cè)量大樣品區(qū)域，測(cè)量面積最高可達(dá)300x300mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測(cè)量?jī)x器的所有優(yōu)點(diǎn)。一鍵式采集功能，易于使用。解決方案大面積3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)先進(jìn)制造業(yè)考古學(xué)與古生物學(xué)消費(fèi)類電子產(chǎn)品醫(yī)療設(shè)備模塑光學(xué)鐘表業(yè)關(guān)鍵特性整個(gè)拼接擴(kuò)展區(qū)域都擁有亞微米高度重復(fù)性。無需Z軸掃描即可測(cè)量最高40mm的單次測(cè)量高度。具有極低場(chǎng)失真的雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭，提供精確的測(cè)量。與3DCAD模型的形狀偏差提供幾何差異和公差測(cè)量可追溯性表面紋...

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，各類法醫(yī)和犯*現(xiàn)場(chǎng)證據(jù)的微觀分析對(duì)偵破案件的重要性日益增強(qiáng)。電鏡作為一種高分辨微觀工具，在法醫(yī)和犯*現(xiàn)場(chǎng)搜證方面有巨大的應(yīng)用價(jià)值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡，利用其超高的圖像分辨率，可以觀察到肉眼無法識(shí)別的細(xì)微痕跡，為警方提供詳盡而關(guān)鍵的物證，科學(xué)地偵破許多看似復(fù)雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中，ZEM18掃描電鏡可以通過人體組織內(nèi)殘留的硅藻種類、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外，ZEM18掃描電鏡可以檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)殘留物，如受害者衣...

三維共聚焦白光干涉儀作為現(xiàn)代精密測(cè)量領(lǐng)域的先進(jìn)儀器，在微觀形貌測(cè)量中展現(xiàn)出杰出的性能和廣泛的應(yīng)用價(jià)值。這種先進(jìn)的測(cè)量設(shè)備融合了共聚焦顯微技術(shù)和白光干涉技術(shù)，為科研和工業(yè)領(lǐng)域提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。1.在性能方面，三維共聚焦白光干涉儀具有納米級(jí)的分辨能力，能夠精確測(cè)量微觀表面的三維形貌特征。其垂直分辨率可達(dá)0.1納米，橫向分辨率可達(dá)0.5微米，這種高精度的測(cè)量能力使其在半導(dǎo)體、光學(xué)元件等精密制造領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。同時(shí)，該儀器具有較大的測(cè)量范圍，可實(shí)現(xiàn)從納米到毫米級(jí)的跨尺度測(cè)量...

當(dāng)今工業(yè)領(lǐng)域?qū)τ诋a(chǎn)品的質(zhì)量和安全性的要求越來越高，因此需要高效、準(zhǔn)確的檢測(cè)技術(shù)來保障產(chǎn)品的品質(zhì)。掃描電鏡作為一種高分辨率、高靈敏度的成像技術(shù)，已經(jīng)在工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。從微觀結(jié)構(gòu)到表面形貌的檢測(cè)，掃描電鏡都能夠提供精確的信息。除了高分辨率成像外，掃描電鏡還具有能夠?qū)悠愤M(jìn)行定量化分析的能力。例如，掃描電鏡可以對(duì)化學(xué)成分、尺寸、形狀等物理參數(shù)進(jìn)行定量分析。這種定量分析能力使掃描電鏡成為了工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域中不可或*的工具。本期內(nèi)容，我們將會(huì)一起探討ZEM18掃描電鏡在工業(yè)檢測(cè)上的...

我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關(guān)新功能的信息，有一個(gè)演示該系統(tǒng)在CMP過程的案例研究以及我們?cè)谥袊?guó)的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個(gè)新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場(chǎng)100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強(qiáng)。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運(yùn)用于電動(dòng)車的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而，在循環(huán)過程中的結(jié)構(gòu)劣化會(huì)造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產(chǎn)生的層間滑移（planargliding）和晶內(nèi)微裂紋（microcracking）為結(jié)構(gòu)劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象，即為在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹，高壓區(qū)間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...

偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)觀察上，還體現(xiàn)在對(duì)樣品性質(zhì)的深入分析上。以下將詳細(xì)闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢(shì)。一、重要作用揭示樣品微觀結(jié)構(gòu)：偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強(qiáng)樣品中的細(xì)節(jié)和對(duì)比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。這對(duì)于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的科研工作者來說至關(guān)重要，因?yàn)樗麄冃枰钊肓私鈽悠返膬?nèi)部結(jié)構(gòu)以揭示其性質(zhì)和功能。分析樣品光學(xué)性質(zhì)：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...