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在納米科技日益發(fā)展的今天，對(duì)微觀世界的探索已成為科研和工業(yè)領(lǐng)域的重要任務(wù)。澤攸探針臺(tái)作為納米科技領(lǐng)域的重要工具，以其高精度、高分辨率和廣泛的適用性，成為了科研人員和企業(yè)工程師的得力助手。本文將詳細(xì)介紹它的特點(diǎn)、技術(shù)規(guī)格、應(yīng)用領(lǐng)域及其重要性。一、概述澤攸探針臺(tái)是一款高性能納米探針臺(tái)，專為納米科學(xué)研究提供良好的儀器支持。該探針臺(tái)采用了壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)技術(shù)，具有分辨率高、尺寸緊湊、行程大、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，能夠在真空環(huán)境下進(jìn)行各種納米精度運(yùn)動(dòng)操作。它的應(yīng)用范圍廣泛，包括納米材料操縱、納米...

在精密測(cè)量領(lǐng)域，技術(shù)的不斷革新推動(dòng)著行業(yè)向前發(fā)展。Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡憑借其良好的性能和特殊優(yōu)勢(shì)，成為了行業(yè)內(nèi)的先進(jìn)者。本文將詳細(xì)介紹它的使用優(yōu)勢(shì)，并通過具體數(shù)據(jù)和特點(diǎn)進(jìn)行闡述。一、技術(shù)融合與創(chuàng)新Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡結(jié)合了共聚焦和干涉技術(shù)，為用戶提供了測(cè)量體驗(yàn)。該技術(shù)無需插拔任何硬件，即可在軟件內(nèi)自動(dòng)實(shí)現(xiàn)共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換，從而使用戶能夠同時(shí)享受到共聚焦技術(shù)的超高XY向分辨率和干涉技術(shù)的亞納米級(jí)Z向分辨率及測(cè)量重復(fù)性的特點(diǎn)。...

UPC獎(jiǎng)勵(lì)Sensofar的軌跡實(shí)現(xiàn)公司獲得了最佳技術(shù)型公司或分拆上面的圖片。Terrassa光學(xué)和視光學(xué)學(xué)院院長(zhǎng)JoanGispets代表Sensofar接受獎(jiǎng)項(xiàng)在著名的UPC（加泰羅尼亞理工大學(xué)）2019年研究?jī)r(jià)值獎(jiǎng)的框架內(nèi)，該獎(jiǎng)項(xiàng)認(rèn)可了大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)在不同調(diào)查模式中的工作，我們公司獲得了該類別的獎(jiǎng)項(xiàng)；技術(shù)型公司或分拆出來的公司。Sensofar是UPC的第一個(gè)衍生產(chǎn)品之一，自成立以來經(jīng)歷了積極的增長(zhǎng)。它與CD6合作森從一開始就與表面計(jì)量領(lǐng)域有著悠久傳統(tǒng)的公司競(jìng)爭(zhēng)（Zygo...

SHARK項(xiàng)目總結(jié)和數(shù)字演示我們走過了漫長(zhǎng)的道路,森發(fā)作為財(cái)團(tuán)成員加入了SHARK歐盟項(xiàng)目（由歐盟地平線2020框架計(jì)劃的研究和創(chuàng)新資金支持，贈(zèng)款協(xié)議編號(hào)768701），目前正接近項(xiàng)目的尾聲。該項(xiàng)目的目的是證明，它可以工業(yè)化的激光功能紋理沒有任何特定的添加涂層。在此期間，11個(gè)歐洲聯(lián)盟合作伙伴（3個(gè)研究機(jī)構(gòu)，4個(gè)技術(shù)提供商和5個(gè)市場(chǎng)的終端用戶）共同努力，將我們所有的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)提供給集團(tuán)，從而豐富了整個(gè)周期中的每個(gè)過程。研究機(jī)構(gòu)技術(shù)供應(yīng)商最終用戶在這種情況下，特別是Sensof...

Sensofar與JHTechnologies合作，在美國推動(dòng)計(jì)量工業(yè)檢測(cè)解決方案JHTechnologies將在美國13個(gè)州分銷和支持Sensofar。JHTechnologies，一家的光學(xué)和數(shù)字成像系統(tǒng)分銷商，最近宣布與先進(jìn)的表面表征系統(tǒng)制造商Senfaro建立銷售、營銷和服務(wù)伙伴關(guān)系。這一戰(zhàn)略伙伴關(guān)系提供了高分辨率非接觸式三維表面輪廓儀的互補(bǔ)共焦，干涉，變焦，光譜反射計(jì)技術(shù)。光學(xué)輪廓儀已經(jīng)由Senfar開發(fā)用于測(cè)量光滑到非常粗糙的表面，并且可以在JHTechnolog...

Sensofar將于7月在西班牙Atapuerca考古挖掘現(xiàn)場(chǎng)助力SensofaratAtapuerca作為我們與FundaciónAtapuerca基金會(huì)和IPHES(CatalanInstituteofHumanPaleoecologyａndSocialEvolution，加泰羅尼亞人類古生態(tài)學(xué)和社會(huì)進(jìn)化研究所）合作的一部分，我們的同事和專家NataliaBermejo和SaraAguado將于今年7月在挖掘開放季節(jié)期間前往Atapuercaarchaeologicals...

全新軟件解決方案：SensoPROLTSensofar將開始將最新開發(fā)的軟件SensoPROLT推出市場(chǎng)。該軟件主要用于生產(chǎn)和質(zhì)量控制測(cè)量的數(shù)據(jù)分析，擁有適用于各種應(yīng)用需求的具體模塊或插件。目前提供的版本專門適用于LED行業(yè)，能夠測(cè)量臺(tái)階高度和粗糙度等標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)。目前正在開發(fā)適用于IC包裝行業(yè)的專用模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)BGA凸起、過孔、銅線、耐焊性的測(cè)量和固定尺寸分析。此外，還能根據(jù)客戶要求針對(duì)其他行業(yè)需求簡(jiǎn)單地個(gè)性化定制新的模塊。提供更多簡(jiǎn)便、精準(zhǔn)的解決方案是Sensofar的關(guān)鍵...

全新Linnik干涉物鏡Sensofar十分高興地宣布推出可選模塊Linnik干涉物鏡。Linnik物鏡設(shè)計(jì)用于獲得位于透明材料深處的表面或很難接觸到的表面的干涉圖像。Linnik物鏡的光機(jī)械設(shè)計(jì)包含兩種相同的物鏡——一種是用于參考表面的物鏡，另一種是用于需檢測(cè)表面的物鏡。結(jié)合兩種明場(chǎng)物鏡提供了各種可能性?？梢允褂贸L(zhǎng)工作距離（SLWD）物鏡、高數(shù)值孔徑物鏡、水浸物鏡或具有傳統(tǒng)干涉儀不具備規(guī)格的任何物鏡組。物鏡組可以是兩個(gè)50x放大倍率的SLWD，用于測(cè)量PSI傾斜表面，例如...